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Mesure et contrôle (métrologie industrielle) > Mesure et contrôle dimensionnels
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Topographie et Contrôle de Surfaces Haute Résolution avec le Mobile S
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Le microscope à force atomique Mobile S de marque Nanosurf et distribué par Schaefer Techniques permet une analyse simple et rapide de surfaces très diverses. C'est un instrument unique qui apporte des données topographiques quantitatives à l'air sur des surfaces traitées ou non.
Un outil innovant pour des applications variées:
Contrôle qualité des plastiques et polymères Contrôle en entrée/sortie des surfaces techniques comme les revêtements durs Contrôle de finition de surface (rugosité, morphologie, analyse de défauts, impuretés..) Développement et/ou interprétation de surfaces fonctionalisées Analyse submicronique ... Analyse d'outils ( par ex. fraise, poinçon, pinces…)
Caractéristiques principales:
Apprentissage de l'instrument en 1 heure Mesure non destructive Système mobile, léger (350 g), entièrement portable, pour petits et grands échantillons Aucun positionnement laser par l’utilisateur, approche automatisée Taille de balayage en X-Y: 110 µm (ou 10 µm en Haute Résolution) Sensibilité faible aux vibrations Connexion PC portable via un port série, pas de haute puissance Logiciel convivial permettant toutes opérations AFM standards
Secteurs d'Applications:
Tous domaines d'études et contrôle de surface industrie: microélectronique, métallurgie, optique, automobile, cosmétique, biotechnologie... recherche en laboratoire: étude des surfaces et développement nouveaux matériaux
Article proposé par SCHAEFER TECHNIQUES
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