Système de Caractérisation des Semi-Conducteurs

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Le Système de Caractérisation des Semi-Conducteurs, Modèle 4200-SCS, incorpore les Mesures de Contrainte et les Tests de Fiabilité avec le Logiciel KTEI 5.0

Cleveland, Ohio, Janvier 2004 - Keithley Instruments annonce la commercialisation du modèle 4200-SCS pour la caractérisation des semi-conducteurs auquel est adjoint le logiciel de test d'environnement interactif intégré, KTE version 5.0. Avec la combinaison de ces deux outils, le 4200-SCS/KTEI devient le système le plus avancé pour la caractérisation des semi-conducteurs. Maintenant, l'utilisateur dispose d'un système standard unique dans l'industrie, capable non seulement de caractériser les semi-conducteurs mais aussi de fournir des résultats de mesures de contrainte et de fiabilité pour l'analyse de durée de vie et l'assurance qualité. Ce nouveau logiciel peut être acheté séparément sous forme de mise à niveau du 4200-SCS pour en faire un outil de test pratiquement universel. Il apporte la simplicité de la fonction "pointer et cliquer" pour les mesures de courant et de tension (I/V) sur des composants tels que des transistors et les résistances ou diélectriques, sur 8 voies indépendantes. Ces mesures sont critiques pour la recherche sur les matériaux, la modélisation, le développement et en production, pour une grande diversité de semi-conducteurs et de composants connexes.
Fonctionnant indifféremment sous l'environnement Windows NT ou Xp, le logiciel KTEI 5.0 offre les fonctionnalités requises pour une caractérisation avancée des semi-conducteurs et le test de fiabilité. Ces fonctionnalités portent sur la définition de tests les plus performants, l'analyse des paramètres, le graphisme et l'automatisation. En plus, de ces améliorations de base, le logiciel KTEI 5.0 englobe les fonctionnalités de mesure de contraintes pour permettre des analyses telles que l'injection de porteur à chaud (HCI), le porteur de voie chauffée (CHC), l'instabilité thermique de la polarisation négative (NBTI), le claquage de diélectrique en fonction du temps (TDDB) et l'électro-migration (EM). Le KTEI 5.0 permet aussi une intégration simple des modules de test réalisés par l'utilisateur en vue d'une opération complètement personnalisée.
Pour préserver les investissements de programmation réalisés par le client, le logiciel KTEI 5.0 peut être installé par l'utilisateur lui-même sur le 4200-SCS quel qu'en soit le modèle sans aucune perte de données ni changements de matériel ou connexions de réseau à effectuer. Il est aussi rétro-compatible, ce qui lui permet d'exécuter un test ou un programme issu d'une version précédente. Une mise à jour complète du système est également disponible de façon à amener une version quelconque du 4200-SCS au dernier stade des fonctionnalités actuelles tant sur le plan du matériel que du logiciel.

Application et marchandisation:
La distinction reçue par Keithley pour le 4200-SCS en fait le système de choix pour la caractérisation des semi-conducteurs et pour les entreprises qui disposent d'un équipement de base important. Ce très large consensus, est le résultat d'une facilité d'utilisation du logiciel inégalée et d'une grande diversité de fonctions de mesure et de générateurs de courants et de tensions. Ceci a suscité une demande accrue de la part de nos clients pour une extension des applications du 4200-SCS dans le domaine des mesures de contraintes et des tests de fiabilité.
Cette demande est conduite par le rétrécissement des facteurs d'échelle des circuits intégrés. Au fur et à mesure que les composants acquièrent des dimensions de plus en plus faibles et que les couches d'oxydes deviennent de plus en plus minces, la durée de vie des composants devient un problème critique. La durée de vie d'un circuit intégré a sérieusement diminué au fur et à mesure que les constructeurs continuent à faire reculer les limites à la fois de la physique et de la faisabilité et, par voie de conséquence, de rendre le test de fiabilité, l'un des points les plus critiques de la fabrication. Ceci pousse les constructeurs à anticiper ces tests au niveau des waffers dans le processus de fabrication comme moyen le plus efficace et le plus économique pour s'assurer des performances d'un produit fiable. Elever le 4200-SCS, qui a déjà fait ses preuves notamment pour ses fonctionnalités de mesure et sa simplicité d'utilisation, à une capacité de mesures de fiabilité est un moyen de réduire le prix de revient des tests et de diminuer leur temps de développement. La demande pour cette fonctionnalité est particulièrement forte dans les laboratoires de développement de composants et pour le processus de validation et les groupes de surveillance. La plate-forme que constitue 4200-SCS est bien adaptée pour les améliorations et les extensions du produit. Dans l'environnement de Windows XP et avec un processeur performant, Keithley fait la démonstration claire de son engagement vers l'avenir de cette ligne de produits. De la même manière, on peut s'attendre à ce que Microsoft fasse vivre Windows XP au moins jusqu'en 2007; dans cette hypothèse, son utilisation avec le 4200-SCS est garantie pour les futures prochaines années. Ces conditions ont conduit Keithley à commercialiser le logiciel KTEI 5.0 en y ajoutant la mesure de contrainte et le test de fiabilité, sans oublier les mises à niveau du processeur et du système d'exploitation.

Informations produit:
Il existe trois possibilités pour faire l'acquisition du système 4200-SCSKTEI 5.0: 1) une mise à niveau du logiciel seul, 2) une mise à niveau du matériel et du logiciel ou 3) un système entièrement neuf. Le logiciel KTEI 5.0 comporte un grand nombre d'outils pour le 4200 et remplace le logiciel actuel (version 3.2 et antérieures). Les utilisateurs du 4200 désireux d'améliorer le CPU et le système d'exploitation doivent opter pour une mise à niveau globale de leur système. Après celle-ci, l'utilisateur sera doté de toutes les dernières fonctionnalités tant du matériel que du logiciel avec la version XP de Windows.
Le système 4200-SCS/KTEI 5.0 constitue un système à vocation double: d'une part pour la caractérisation des composants et d'autre part, pour le test de fiabilité surtout en raison de son extrême sensibilité, de ses fonctionnalités de mise en séquence et de son environnement intégré sous Windows qui assure la simplicité de gestion des données et d'analyse. Ce système offre le meilleur équilibre pour sa facilité d'utilisation, sa souplesse et son faible prix.

Disponibilité:
Le KTEI 5.0 est disponible immédiatement sous CD-ROM pour une mise à niveau qui peut être installée directement par le client. Il peut aussi être installé chez Keithley pour une mise à niveau globale, y compris le processeur, Windows XP et le KTEI 5.0 avec le modèle 4200 complet. Pour plus d'informations sur ce logiciel et les diverses possibilités de mise à jour, contactez: www.keithley.com

Keithley Instruments apporte des solutions à la mesure dans des secteurs de l'industrie électronique en pleine croissance, y compris les semiconducteurs, les télécommunications, le médical et les composants. Des ingénieurs et scientifiques dans le monde entier utilisent les instruments de test de précision de Keithley, ses cartes enfichables, logiciels de surveillance de processus, tests en production et recherche fondamentale.

Les produits et les noms mentionnés dans ce communiqué sont des marques déposées ou des appellations commerciales de leur propres constructeurs.

Article proposé par Keithley Instruments GmbH

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