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Laser 2000 présente le nouvel appareil de la société britannique AQUILA Instruments.
Cet appareil permet la caractérisation automatisée de la totalité des paramètres des couches minces : T, R, n, k, et l'épaisseur d. Les facteurs de transmission T et de réflexion R sont mesurés simultanément. On peut ainsi caractériser jusqu'à cinq couches minces. Tous les substrats, transparents ou non et sans préparation particulière, sont concernés, y compris les métaux. La mesure peut s'effectuer sous incidence variable. On peut choisir facilement la polarisation étudiée. Un grand nombre de platines porte-échantillons permettent notamment le mapping en X et Y et l'étude en fonction de la température.

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