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Le SET X Elphyse est un instrument qui permet de mesurer la contrainte par diffraction de rayon X. Cet équipement permet d’obtenir le tenseur des contraintes totales en surface d’un métal en quelques minutes. Sa miniaturisation et son système d’accrochage à dépression permettent des mesures sur des surfaces très diverses en forme et position. L’électronique de détection des rayons X et le microprocesseur MOTOROLA 68000 rendent cet équipement entièrement automatique en analyse de contraintes, et, en dosage d’austénite résiduelle. Le SET X est le résultat d’une collaboration et d’une grande expérience entre l’ENSAM de Paris et Physique & Industrie.

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