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Cleveland, Ohio, Février 2005 * * * Keithley, l'un des leaders mondiaux
pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce que AMD vient de choisir le système de test paramétrique, modèle S680 DC/RF pour le contrôle de toute sa production de modules logiques avancés, de 300 mm dans son usine ultra-moderne, de Dresde (Allemagne). Les avantages de ce système sont les suivants: il est doté d'une fonctionnalité de mesures avancées, son prix est particulièrement bas et offre une cadence de mesure supérieure sans oublier un service de maintenance et d'assistance technique local efficaces.

"La décision d'AMD de porter son choix sur le modèle S680 DC/RF est une preuve irréfutable que ce système est maintenant admis comme l'un des meilleurs du marché pour le test paramétrique, les mesures électriques sur les galettes semi-conducteurs et le contrôle en cours de production" a déclaré Mark Hoersten, vice président du Département Développement de Keithley. "Les fabricants de circuits intégrés de hautes performances, logiques ou analogiques se tournent de plus en plus vers Keithley pour se procurer des systèmes susceptibles de répondre aux exigences, mêmes les plus avancées, des produits de la prochaine génération. Parmi ces caractéristiques il faut souligner son utilisation dans la gamme, désormais courante, des 90 et 65 nm sans oublier aussi leur importance dans le développement des produits au niveau des 45 nm.

Commercialisé en 2003, le modèle S680 DC/RF a été conçu pour le test paramétrique au niveau des galettes de semi-conducteurs pour les communications sans fil et les composants numériques de haute rapidité. Ce système de test permet aussi un accroissement remarquable de la cadence globale de production en associant les deux fonctions les plus critiques en un seul système DC et HF.

En effet, le S860 permet d'incorporer des tests DC et HF dans la même séquence de test. Cette approche permet d'éliminer les durées d'étalonnage et de test, souvent longues qui sont nécessaires dans le cas d'appareils HF distincts. Le S860 élimine aussi l'utilisation d'une sonde uniquement HF, particulièrement coûteuse. De plus, ses fonctionnalités incomparables par rapport aux autres systèmes de test telles que la possibilité de mener des tests en parallèle permettent aux fabricants de circuits intégrés de réduire les coûts de façon significative.

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