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Des fonctionnalités de mesure très pointues en mode pulsé renforcent l'expertise de Keithley dans le domaine de la caractérisation des composants

Cleveland, Ohio, Juillet 2005 * * * Keithley instruments, l'un des
leaders mondiaux pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce la commercialisation d'un générateur d'impulsions et de mesure pour le modèle 4200-SCS (système de caractérisation des semi-conducteurs). Complètement intégré dans un ensemble miniaturisé, le PIV (Impulsion I - V) offre des mesures de qualité supérieure et réduit le temps avant la mise sur le marché pour les chercheurs de pointe qui travaillent sur des matériaux "high k", des composants sensibles à l'effet thermique et sur les chips mémoire avancés. C'est le seul système sur le marché actuellement capable d'offrir des mesures précises et reproductibles aussi bien en mode pulsionnel qu'en continu (DC) dans un ensemble totalement intégré en un seul volume et d'une grande simplicité d'utilisation.

L'ensemble PIV est une option du système de caractérisation des semi-conducteurs 4200-SCS. Ce modèle réalise déjà des mesures de qualité laboratoire sur des composants DC, effectue les tracés graphiques en temps réel et des analyses de haute précision avec une résolution au delà du fempto-ampère. Il dispose aussi de fonctionnalités avancées, intégrées dans le système de caractérisation ainsi que d'un PC sous Windows Xp et d'une mémoire de masse.

Nécessité des mesures pulsées
Au fur et à mesure que la technologie des semi-conducteurs évolue vers le nœud des 65 nm, et au delà, des techniques de mesure autres que celles du générateur/mesureur DC s'avèrent nécessaires pour caractériser efficacement les nouveaux matériaux et composants. Ceci est dû à l'apparition de nouveaux problèmes tels que le piégeage des charges "high k" et de l'auto échauffement des composants du type isolant sur silicium (SOI). Bien que les développeurs de pointe aient exprimé leur besoin de tests pulsés, il n'est pas apparu de solutions commerciales exploitables suffisamment simples d'utilisation, et pouvant assurer des mesures précises et reproductibles. L'ensemble PIV, modèle 4200-SCS, qui possède cette faculté de produire des impulsions permet de résoudre ce problème tout en conservant une miniaturisation poussée sur les générateurs d'impulsions et de mesure, articulés sur un logiciel breveté. Du fait de cette miniaturisation, les interconnexions nécessaires sont simplifiées pour le composant à tester (DUT). Désormais les utilisateurs n'ont plus à chercher un rack convenable dans leur stock, ni à réaliser des connexions compliquées, pas plus que de mettre au point un logiciel interne, le tout fournissant des mesures plus ou moins incertaines…. Cette nouvelle capacité de l'ensemble PIV à produire des impulsions a maintenant été intégrée dans la plate forme 4200-SCS, qui a déjà fait ses preuves, et assure des mesures précises à la fois en modes pulsé et continu (DC), le tout en un seul ensemble sous le contrôle du logiciel de test des semi-conducteurs KTEI lui-même dûment éprouvé.

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