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Cleveland, Ohio, Juillet 2005 * * * Keithley instruments, l'un des
leaders mondiaux pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce la parution de son nouveau catalogue de référence pour le test des semi-conducteurs, intitulé: Overcoming the Measurement Challenges of Advanced Semiconductor Technologies. (Pour surmonter les problèmes de mesure dans la technologie des semi-conducteurs avancés). Ce manuel de 140 pages décrit les problèmes émergeants auxquels les fabricants de semi-conducteurs avancés se trouveront confrontés dès lors qu'ils atteindront la technologie des 65 nm et au delà. Cet ouvrage est disponible gratuitement sur notre site: http://www.keithley.info/SemiHandbook

Ce volume est le résultat de l'expérience collective de Keithley dans le domaine du test paramétrique et de son expertise dans la caractérisation des composants sans oublier celles des clients. Il couvre une grande diversité de technologies et traitements émergeants, tels que:

" Problèmes de test sur les chips HF
" Test de la fiabilité diélectrique des portes
" Pompage des charges et fiabilité
" Mesures de capacités à haute fréquence
" Test via le cuivre
" Mesures avancées SMU DC

Ce manuel contient également un glossaire des termes les plus couramment employés dans l'industrie des semi-conducteurs, la terminologie des tests et la mesure.

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