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Cleveland, Ohio, Mars 2005 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesure dans les besoins émergeants annonce une nouvelle série de générateurs, de la famille des Sourcemeters , la série 2600. Ces nouveaux systèmes constituent une plateforme dont les caractéristiques les plus remarquables sont un abaissement significatif des coûts de test s'adressant à une grande diversité de fabricants de composants électroniques, y compris ceux de semi-conducteurs au silicium et de semi-conducteurs hybrides. Etudiés selon les concepts de la technologie des générateurs / mesureurs de la troisième génération (modèle déposé) les Sourcemeters de la série 2600 allient le plus haut degré de rapidité jamais atteint sur le marché à une adaptabilité qui permet son intégration sans problème dans les systèmes de 1 à 16 SMU. Les appareils de la série 2600 sont présentés sous deux formes : le modèle 2601 à une seule voie et le modèle 2602 à deux voies. Ces deux systèmes constituent chacun un instrument modulaire et adaptable, idéal pour élaborer des systèmes ATE. Ils sont capables de faire des mesures de précision en DC, de produire des impulsions et de conduire des tests en générateur / mesureur à basse fréquence.

Une plus grande rapidité de test pour accroître la cadence

La série 2600 atteint des cadences de mesures les plus élevées du marché avec le TSP (Test Script Processor) incorporé. Ce TSP permet à l'utilisateur de programmer une séquence indépendamment du système d'exploitation d'un PC. Contrairement aux autres systèmes de la concurrence qui ne possèdent pas cette fonctionnalité de programmation ou ne permettent que d'organiser des opérations en file d'attente avant des les exécuter, le TSP apporte une intelligence intuitive qui assure une autonomie de fonctionnent au système 2600 tel un système de mesure complètement automatisé pour le test des composants. L'appareil peut contrôler le générateur, le mesureur, passer en mode "accepté/refusé", contrôler l'exécution des séquences de test, commander l'aiguillage dans les bacs ainsi que le stockage des données sur les voies SMU (de 1 à 16). Le test offre un avantage de rapidité par rapport aux autres produits de la concurrence dans un rapport de deux à quatre, dans des applications telles que les tests de composants à trois pôles, en parallèle, avec balayage L-I-V et des composants à deux pôles. Sa souplesse de déclenchement et le contrôle de l'exécution des séquences permettent aussi au TSP de contrôler d'autres instruments, de commander des manipulateurs ou des capteurs via les E/S numériques et les ports RS-232. Avec sa fonctionnalité d'automatisation inégalée, le TSP est capable d'exécuter jusqu'à 10 fois plus rapidement les mesures que les appareils qui l'ont précédé.

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