Rubrique : Electronique, électrique (composants, appareils de mesure, systèmes) > Systèmes de tests et de mesures pour semiconducteurs       Rubrique, Rubrique:

IMPRIMER

RETOUR

Cleveland, Ohio, Mars 2005 * * * Keithley, l'un des leaders mondiaux
pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce sa troisième génération de fonctionnalités de mesures HF sur les chips de semi-conducteurs. Ces mesures sont destinées au contrôle de la production par le test paramétrique. Cette nouvelle génération est destinée au contrôle en production par des tests paramétriques. La particularité la plus importante de cette troisième génération est la fonctionnalité unique qui permet une surveillance continue, automatique et en temps réel de la production car elle réalise des mesures de qualité et, par conséquent, des résultats supérieurs. Si l'on ajoute une cadence de mesures élevée, un faible coût de fonctionnement et une utilisation des plus faciles par rapport aux autres produits du marché, ce nouveau système est unique par ses performances. De plus, sa fonctionnalité de mesure HF (option) en fait le seul système de test qualifié pour le contrôle de processus paramétrique des chips de 200 et 300 mm destinés aux circuits logiques et analogiques intégrés de hautes performances.

Intégrité supérieure des mesures

La surveillance automatique et continue de l'intégrité des mesures est réalisée en faisant en sorte que le testeur détecte automatiquement les événements qui pourraient invalider l'étalonnage HF et déclencher automatiquement une action corrective telle qu'un ré-étalonnage accidentel. Les changements de la configuration du système, tels que le changement de carte capteurs, peuvent être paramétrés pour déclencher un ré-étalonnage inopiné. Il existe aussi des événements temporels de déclenchement, tels que l'étalonnage HF au bout d'un temps déterminé. Le stade ultime des événements de déclenchement est basé sur les mesures. Par exemple, pendant que le capteur indique le passage sur le prochain site, le testeur vérifie automatiquement en tâche de fond la qualité des contacts du capteur et lance un nettoyage automatisé si nécessaire.

Une haute intégrité de mesure permet au spécialiste HF de faire l'économie d'une inspection manuelle des courbes de données brutes afin de découvrir les anomalies éventuelles qui pourraient mettre en question la validité des mesures HF. Cette intégrité élimine aussi le coût élevé d'une remise en place d'un nouveau capteur et d'un recommencement du test afin de le rendre compatible avec des fabrications les plus efficaces de chips de 300 mm.

Lire d'autres articles du même fournisseur

- Le catalogue 2006 des instruments de test et de mesure de Keithley est disponible
- Nouvelle ligne d'équipements de Test et Mesure RF - Keithley Instruments
- Keithley annonce un nouveau catalogue d'assistance au test des semi-conducteurs
- Keithley annonce une nouvelle solution de mesures pulsées pour la caractérisation des composants semi-conducteurs
- Keithley annonce un nouveau système de test de fiabilité des semi-conducteurs au noeud de 65 nm et au-delà
- Keithley annonce la commercialisation d'une nouvelle famille d'acquisition de données sous USB

Lire tous les articles de ce fournisseur

Lire d'autres articles de la même sous-rubrique

- Keithley annonce un nouveau catalogue d'assistance au test des semi-conducteurs
- Keithley annonce une nouvelle solution de mesures pulsées pour la caractérisation des composants semi-conducteurs
- Keithley annonce un nouveau système de test de fiabilité des semi-conducteurs au noeud de 65 nm et au-delà

Voir tous les articles de la sous-rubrique Systèmes de tests et de mesures pour semiconducteurs

List of all articles in this sub-categoryList of all articles in this sub-categoryList of all articles in this sub-category